고정밀 다채널 프로그래머블 DC 전원
N23010 시리즈는 반도체 산업을 위해 특별히 개발한 고정밀·다채널 프로그래머블 DC 전원공급장치입니다. 칩에 고정밀·안정·순수한 전원을 공급하면서 환경 시험 챔버와 연동해 다양한 환경 신뢰성 시험을 수행할 수 있습니다. 전압 정확도 0.01% 수준이며 μA 단위의 전류 측정을 지원합니다. 단일 장비에 최대 24채널을 탑재했고, 로컬·원격(LAN/RS232/CAN) 제어로 칩 양산 자동 시험에 최적화되어 있습니다.
주요 특징
- 전압 정밀도 0.6mV
- 장기 안정성 80ppm/1000h
- 단일 장비 최대 24채널
- 전압 리플 노이즈 ≤2mVrms
- 표준 19인치 3U 섀시
- 반도체 산업 전용 설계
기능 및 장점
정확도와 안정성으로 시험 신뢰성 확보
신뢰성 시험은 보통 다수의 칩을 장시간 전원을 공급한 채 운영해야 합니다. HTOL 시험을 예로 들면 샘플 수가 최소 231개에 시험 시간은 1000시간에 달합니다. N23010의 전압 정밀도 0.6mV, 장기 안정성 80ppm/1000h, 전압 리플 노이즈 ≤2mVrms는 시험 과정 전체의 신뢰성을 보장하며, 계측기와 DUT의 안전을 확실히 지켜줍니다.
초고집적 설계로 투자 비용 절감
칩 R&D, 시제품 양산, 본격 양산 단계에서 다수 샘플을 대상으로 신뢰성 시험을 진행해야 하며, 칩 또는 보드의 누설전류는 핵심 시험 항목입니다. 기존 방식은 다수의 리니어 전원과 데이터 샘플링 장비를 별도 운영해야 해 연결이 복잡하고 시험 공간을 많이 차지합니다. N23010은 19인치 3U 섀시에 최대 24채널 전원을 통합하고 μA 수준 전류 측정까지 지원해, 대규모 칩 시험을 위한 고집적 솔루션을 제공합니다.
빠른 동적 응답
N23010은 빠른 동적 응답을 갖춰, 전 전압 출력에서 부하가 10%→90%로 변동할 때 전압 회복 시간이 50mV 강하 기준 200μs 이내입니다. 고속이면서도 오버슈트가 없는 전압·전류 상승 파형을 보장해, 시험 대상 칩에 안정적인 전원을 안전하게 공급합니다.
시퀀스 편집
시퀀스 편집 기능을 지원합니다. 출력 전압·전류·단계별 동작 시간을 설정할 수 있고, 100조의 전압·전류 시퀀스를 로컬에 사용자 정의로 저장할 수 있습니다.
다양한 통신 인터페이스 — 자동 시험에 최적
RS232·LAN·CAN 포트를 모두 지원해 자동 시험 시스템 구축이 편리합니다.
데이터베이스
Database
데이터시트
Data Sheet
사용자 매뉴얼
User Manual
준비 중
통신 프로토콜
Communication Protocol
준비 중
소프트웨어·드라이버
Software & Driver
준비 중
응용 사례
Application
준비 중